| 新製品 ＡＦ・ミクロン深さ高さ測定機 |
ＡＦ・ミクロン深さ高さ 測定機（PDF） |
光切断によるスリット像観察とスポット光像によるＡＦ（オートフォーカス）追従を組み合わせた新しいタイプの深さ高さ測定機です。 |  |
| 新製品 レーザー加工用光学 AFユニット |
AFT-256-M＆OPR/AFユニット （PDF） |
①リペアー用光学系に最適 ②微細スポットに集光可能 |
 |
| 新製品 観察用 オートフォーカス 顕微鏡 |
AFT-256-M＆ OPR（PDF） |
①半導体・液晶基板等の高精度カメラ対応の高速 ＡＦユニット ②微細スポットに集光可能 |
 |
| 高速オートファーカス 分離型ＡＦ |
AFT-208-OPR （PDF） |
レーザ分離型ＡＦに 鏡筒を組合せ、専用ＡＦ軸でリアルタイム連続追従 |
 |
| 微小段差測定装置 | OPR201-2.5D （PDF） |
リアルタイム連続追従 素早くダイナミック にサブミクロンプロファイル測定出来ます |
 |
光サーボ方式 高速オートフォーカス 顕微鏡 |
ＡMF－101M1 （PDF） |
高速動作性能を備え、 サブミクロンのオートフォーカス精度 |
 |
ＡMF－101P1 （PDF） |
AFｱｸﾁｪｱｰﾀｰ部に ピエゾによる対物レンズ駆動方式を採用 |
 |
|
超長作動アライメント 光学系 |
UW３００－３ OMZ－４ WD３００－３X （PDF） |
WD１２０～３００ｍｍ |  |
| 顕微鏡オートフォーカス | ＡFT－250 | 素早い応対速度 50μmの距離を0.1 |
 |
| 顕微鏡オートフォーカス変位計 | AFT-250S | 手持ちMiniサイズユニットがリアルタイム連続追従します |  |
| 非接触３次元測定装置 | ＭＬＨ－50 (XY可動エリア) 50×50㎜ MLH-100 (XY可動エリア) 100×100㎜ |
高さ方向0.01μmの分解能、対物レンズ移動は10mm。非接触で断面、３D、粗さなどを測定できます。 |  |
| ■ ズーム顕微鏡 | ||
| ・デジタルMiniズーム顕微鏡 | OMZ-Mini 4型 |  |
| ・超長作動ズーム顕微鏡（高倍） | OMZ-10 62㎜ OMZ-10-12 120㎜ |
PDFファイル→■ 右クリック"対象をファイルに保存"を行ってから ご覧ください |
| ■ N.A可変対物レンズ | ||
| ・テレセントリック型 | Ultra Plan Apo 20N.A.X |  |